The Berry-Phase applied to optical Metrology


Krackhardt, Ulrich ; Brenner, Karl-Heinz


Dokumenttyp: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 1999
Buchtitel: Proceedings of the Workshop on Physics and Computer Science ; (Physik, Informatik, Informationstechnik) ; Heidelberg, Germany, March 15-16, 1999
Seitenbereich: 177-185
Autor/Hrsg. des Buches
(nur der Erstgenannte!)
:
Kluge, Werner
Ort der Veröffentlichung: Kiel
Verlag: Univ., Dept. of Computer Science
Sprache der Veröffentlichung: Englisch
Einrichtung: Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Optoelektronik (Brenner)
Fachgebiet: 004 Informatik

Dieser Eintrag ist Teil der Universitätsbibliographie.




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Krackhardt, Ulrich und Brenner, Karl-Heinz (1999) The Berry-Phase applied to optical Metrology. In: Proceedings of the Workshop on Physics and Computer Science ; (Physik, Informatik, Informationstechnik) ; Heidelberg, Germany, March 15-16, 1999 1999 Kiel [Konferenzveröffentlichung]



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