Parameter detection of thin films from their x-ray reflectivity by support vector machines


Strauß, Daniel J. ; Steidl, Gabriele ; Welzel, Udo


Dokumenttyp: Zeitschriftenartikel
Erscheinungsjahr: 2004
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe: Applied numerical mathematics
Band: 48
Heft: 2
Seitenbereich: 223-236
Ort der Veröffentlichung: Amsterdam
Verlag: Elsevier
ISSN: 0168-9274
Sprache der Veröffentlichung: Englisch
Einrichtung: Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Angewandte Mathematik u. Informatik (Steidl -2011)
Fachgebiet: 004 Informatik
Zusätzliche Informationen: Datenuebernahme

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Strauß, Daniel J. und Steidl, Gabriele und Welzel, Udo (2004) Parameter detection of thin films from their x-ray reflectivity by support vector machines. Applied numerical mathematics 48 2 223-236 [Zeitschriftenartikel]



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