Charge Trapping in ONO Interpoly Dielectric of FLOTOX EEPROM Cells


Brücklmeier, Eric-Roger ; Kux, Andreas ; Kakoschke, Ronald ; Palm, Herbert


URL: http://dx.doi.org/10.1016/S0167-9317(99)00415-3
Dokumenttyp: Zeitschriftenartikel
Erscheinungsjahr: 1999
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe: Microelectronic Engineering
Band: 48
Heft: 1/4
Seitenbereich: 411-414
Ort der Veröffentlichung: Amsterdam [u.a.]
Verlag: Elsevier
ISSN: 0167-9317
Sprache der Veröffentlichung: Englisch
Einrichtung: Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Elektrotechnik (Fliege Em)
Fachgebiet: 004 Informatik

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Brücklmeier, Eric-Roger ; Kux, Andreas ; Kakoschke, Ronald ; Palm, Herbert (1999) Charge Trapping in ONO Interpoly Dielectric of FLOTOX EEPROM Cells. Microelectronic Engineering 48 1/4 411-414 [Zeitschriftenartikel]



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