Relations between soft wavelet shrinkage and total variation denoising


Steidl, Gabriele ; Weickert, Joachim


URL: http://dx.doi.org/10.1007/3-540-45783-6_25
Dokumenttyp: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2002
Buchtitel: Pattern Recognition : 24th DAGM Symposium Zurich, Switzerland, September 16–18, 2002. Proceedings
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe: Lecture Notes in Computer Science
Band/Volume: 2449
Seitenbereich: 198-205
Autor/Hrsg. des Buches
(nur der Erstgenannte!)
:
Gool, Luc van
Ort der Veröffentlichung: Berlin [u.a.]
Verlag: Springer
ISBN: 3-540-44209-X , 978-3-540-45783-1
Sprache der Veröffentlichung: Englisch
Einrichtung: Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Angewandte Mathematik u. Informatik (Steidl -2011)
Fachgebiet: 004 Informatik

Dieser Eintrag ist Teil der Universitätsbibliographie.




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Steidl, Gabriele ; Weickert, Joachim (2002) Relations between soft wavelet shrinkage and total variation denoising. In: Pattern Recognition : 24th DAGM Symposium Zurich, Switzerland, September 16–18, 2002. Proceedings 2002 Berlin [u.a.] [Konferenzveröffentlichung]



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